电子天平的内校砝码校正的方法-凯发k8官网手机客户端

电子天平的内校砝码校正的方法

技术领域：本发明涉及一种电子天平的内校砝码校正的方法，属衡器领域。

背景技术：

由于电子天平的相对精度很高，均在百万分之一以上，当受到环境温度变化，天平自身通电后发热的温度变化，元器件的老化，空气压力的变化，水平位置的变化等多种因素的影响，都会使称重结果不正确，因此，在很多电子天平中都装有内部校正砝码，当当受到温度等外部环境影响时。即时用内部校正砝码对天平进行重新校正，修改校正系数，使天平恢复正确的称重结果，这对电子天平的称重是非常必要的。而电子天平的内校砝码的生产有较高的要求，它对砝码材料密度、磁化率、砝码表面光洁度均有很高的要求外，对砝码实际质量的准确性有较高的要求，如天平的实际分度值为0.1mg，则内部校正砝码的实际质量误差就应小于0.05mg，这样的要求给砝码生产过程中的调整带来困难，同时由于经常使用带来的磨损及氧化等造成砝码质量变化，产生校正偏差，这对内部校正砝码进行修正相当困难，目前尚没有行之有效的内部校正砝码的校正方法。